詳細摘要： Verios是FEI的XHR（分辨率）SEM系列的第二代產品
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詳細摘要： 產品概述：納米級物質成像、分析和控制—這些未來研發的關鍵因素—因HeliosNanoLabDualBeam系列儀器的誕生而變得普通平淡
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詳細摘要： 產品概述：開發新一代產品需要新型材料科學工具來給研究者提供所需要的表征數據的能力，以確切地了解材料間的相互關系以及什么特性對材料的功能比較重要
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詳細摘要： 產品概述：V400ACE聚焦離子束(FIB)系統融入了離子鏡筒設計、氣體輸送和終端探測技術的發展成果，用以提供快速、有效、具成本效益的集成電路編輯
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詳細摘要： 功能豐富的高性能SEMApreo革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生的高分辨率和信號選擇
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詳細摘要： 自2005年推出以來，Titan以其的產品設計和已獲證明的具有突破性的性能和結果成為各地杰出研究人員的掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM)
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詳細摘要： FEIScios是一款超高分辨率DualBeam分析系統，能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能
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詳細摘要： FEIQUANTA產品系列包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個DualBeam系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科學...
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詳細摘要： 臺式掃描電子顯微鏡（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）,又俗稱“桌上型掃描電鏡"或“MiniSEM"，相...
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詳細摘要： 探知未來原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱
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詳細摘要： HR-SPM觀察生動的納米世界HR-SPM是采用頻率檢測方式（FrequencyModulation）的新一代原子力顯微鏡
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詳細摘要： 從毫米到納米的超大范圍觀察和自由切換測量的多種顯微觀測模式OLS4500是結合了傳統光學顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡（LSM）以及原子力顯微鏡（AFM）功能的一體機
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詳細摘要： “TheGrandEPMA"誕生搭載場發射電子光學系統、將島津EPMA分析性能發揮到從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發射電子光...
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